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【摘要】目的:通过计算机X成像与平板探测器X线成像的对比分析，从而了解数字化X射线影像检验技术成像质量和X射线摄影条件的关系，为今后的数字化X射线影像检验技术的使用和X射线仪器的选择，提供科学有效的依据。 方法 分别记录计算机X成像（computed radiografhy, CR）系统与平板探测器（flat panel detectors）数字X线成像系统分别在不同的剂量条件下成像质量，并进行对比。结果 在不同的剂量条件下，计算机X成像（CR）与平板探测器影像IQF值具有显著的差别，当曝光剂量在低剂量的情况下时，计算机X成像（CR）比平板探测器具有更低的IQF，差别有统计学意义。结论 计算机X成像（CR）成像质量更优于平板探测器，相比较之下CR更有利于检验结果的判断。
【关键字】数字化X射线影像；成像质量；X射线摄影条件
【中国分类号】R814.4【文献标识码】A【文章编号】1044-5511（2011）11-0018-01
数字化X线成像（digital radiografhy,DR）是将X线摄影装置或透视装置同计算机相结合，使X线信息由模拟信息转化为数字信息，形成数字化图像的成像技术［1］。数字化X线成像（DR）可分为计算机X成像（computed radiografhy, CR）、数字X线荧光成像（digital fluorograghy,DF）和平板探测器（flat panel detectors）数字X线成像这三种。目前基于平板探测器的DR系统具有更高的量子检出效率(DQE)［2］。也就是说，对于平板探测器而言，计算机X成像（CR）具有更高的成像质量。对X射线摄像影像技术也有着重要的作用。
1.方法
1.1 X线摄影设备:在计算机X成像（CR）与平板探测器成像系统的对比试验的过程中，整个过程所使用的成像系统仪器均采用飞利浦CR进口X线机。所使用的飞利浦CR进口X线机的主要参数为：像素矩阵为2560×3072，探测器有效面积为35cm×53cm，图像显示器象素矩阵为2560×2048，像素单元尺寸为13μm，焦点-探测器距离为180cm，X射线管焦尺寸为0.5mm，管电压为120kVp。平板探测器（flat panel detectors）的主要参数为：像素矩阵为3121×3121，探测器有效面积为43cm×43cm，图像显示器象素矩阵为2560×2048，像素单元尺寸为13μm，焦点-探测器距离为180cm，X射线管焦尺寸为0.5mm，管电压为120kVp。以上所有的参数如表1。
表1 所使用X线摄影设备成像参数
1.2 摄影体模:摄影体模采用5cm厚的CDRAD2.0对比度-细体模，采用模拟胸部X线摄影，根据摄影系统X线发生器与X线管构造的不同，X射线剂量条件也不同。可以根据CDRAD2.0对比度-细体模的试验实际所测量出来的曝光剂量作为判断的依据。
1.3 图像质量对比的标准与评价:计算机X成像（CR）与平板探测器成像系统的成像质量分别运用计算影像质量表征因子（IQF）进行对比分析，根据ANOVA所具有的检测能力，由计算影像质量表征因子（IQF）为摄影影像的质量作为影像质量的判断标准，从而根据这个标准，对计算机X成像（CR）与平板探测器成像系统的成像质量进行对比分析。
1.4 统计学处理:对所有记录的数据均采用SPSS13.0统计学软件进行处理。
2. 结果
通过对3位观察者的高分辨率的摄影影像，对计算机X成像（CR）与平板探测器成像系统的不同辐射剂量在CDRAD2.0对比度-细体模影像进行对比观察，根据记录所得的出的计算影像质量表征因子（IQF）值，统计结果见表2。
表2 3位观察者在计算机X成像（CR）与平板探测器成像系统影像所得出的IQF值
注：A为23.7μGy；B为47.4μGy；C为94.8μGy；D为112.7μGy；E为256.4μGy；a为使用计算机X成像（CR）成像系统，b为使用平板探测器成像系统。
上述所有数据均通过SPSS13.0统计学软件进行处理。数据表明在不同成像剂量条件下，计算机X成像（CR）与平板探测器影像的IQF值具有显著的差别。当曝光剂量在低剂量的情况下时，计算机X成像（CR）比平板探测器具有更低的IQF，P
